DL/T 5118-2000 农村电力网规划设计导则

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 21:00:28   浏览:8442   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:农村电力网规划设计导则
英文名称:Plan design guide for the rural electric power network
中标分类: 能源、核技术 >> 电力 >> 电力系统
替代情况:被DL/T 5118-2010代替
发布部门:中华人民共和国国家经济贸易委员会
发布日期:2000-11-03
实施日期:2001-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:2011-05-01
提出单位:电力行业农村电气化标准化技术委员会
归口单位:电力行业农村电气化标准化技术委员会
起草单位:中国农业大学电子电力工程学院、中国电力科学研究院农村电气化研究所
起草人:郭喜庆、张英书、孙明德、崔立丽、孟繁长
出版社:中国电力出版社
出版日期:2001-01-01
页数:18页
适用范围

本导则规定了编制农村电力网规划的技术要求及相关事宜适用于农村电力网中110kV及以下各级配电网的新建、扩建和改造的规划设计。

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所属分类: 能源 核技术 电力 电力系统
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【英文标准名称】:Ironores--Methodsfordeterminationofsiliconcontent
【原文标准名称】:铁矿石.硅含量测定方法
【标准号】:JISM8214-1995
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:1995-09-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonIronandSteel
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:金属矿;硅无机化合物;二氧化硅;含量测定;二氧化物;铁矿石;化学分析和试验
【英文主题词】:determinationofcontent;chemicalanalysisandtesting;;;;;
【摘要】:この規格は,鉄鉱石中のけい素定最方法について規定する。
【中国标准分类号】:D31
【国际标准分类号】:73_060_10
【页数】:21P;A4
【正文语种】:日语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.闭锁试验
【标准号】:BSEN60749-29-2003
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2004-03-09
【实施或试行日期】:2004-03-09
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:多语种的;半导体器件;气候试验;试验;半导体;耐力;电子设备及元件;闭锁;电气工程;术语;压电器件;过电压试验;尺寸;环境试验;机械试验;频率稳定;集成电路;电子工程;元部件;谐振器;介电性能;压电的;介质;定义;电学测量
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Dielectricproperties;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Frequencystabilization;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Multilingual;Overvoltagetests;Piezoelectric;Piezoelectricdevices;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Semiconductors;Terminology;Testing;Testingdevices
【摘要】:ThispartofIEC60749coversthel-testandtheovervoltagelatch-uptestingofintegratedcircuits.Thistestisclassifiedasdestructive.Thepurposeofthistestistoestablishamethodfordeterminingintegratedcircuit(IC)latch-upcharacteristicsandtodefinelatch-upfailurecriteria.Latch-upcharacteristicsareusedindeterminingproductreliabilityandminimizing"NoTroubleFound"(NTF)and"ElectricalOverstress"(EOS)failuresduetolatch-up.ThistestmethodisprimarilyapplicabletoCMOSdevices.Applicabilitytoothertechnologiesmustbeestablished.InthispartofIEC60749latch-upisnotrelatedtoaspecificmechanismbutisanelectricalfailurecharacteristicthatoccurswhenadeviceissubjectedtothistestmethod.Theclassificationoflatch-upasafunctionoftemperatureisdefinedin2.1andthefailurelevelcriteriaaredefinedin2.10
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语